●●●●●●●●●●２００５年度静電気障害防止技術シンポジウム開催のご案内●●●●●●●●●●
－電子デバイスのための静電気対策－
主催
静電気学会
日 時：平成17年12月2日(金) 9：30～17：00 (予定)
会 場：東京理科大学神楽坂キャンパス「理窓会館」３階会議室
〒162-0825新宿区神楽坂2-13-1 電話03-3260-0725
http://www.hq.sut.ac.jp/~risokai/kaikan.html
＜ＪＲ飯田橋下車，神楽坂登り，仲通り右に曲がる。駅から５分＞
●●暫定版プログラム●●
（ 演題，演者等は都合により変更することがあります。）
１．開会挨拶（9:30～9:35）
東京大学 小田 哲治
◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇各種デバイスにおけるESD対策の推移◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇
（9:35～12:45休憩時間10分を含む）
２．ナノデバイスのESD/EMI ㈱日立グローバルストレージテクノロジーズ
大津 孝佳
３．ナノデバイス製造プロセスにおける静電気障害とその対策 職業能力開発大学 岡野 一雄
４．半導体デバイス静電気保護回路設計手法の変遷及び工程対策 沖エンジニアリング㈱ 福田 保裕
５．電子デバイスにおける静電気対策の推移と問題点 ㈱カイジョー 藤江 明雄
６．低電圧空気中／リードスイッチ放電の放電抵抗の電圧依存性 東京電子交易㈱ 磯福
佐東至
７．半導体製造教育用VTR (VTR上映)
◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆各種イオナイザの開発・技術展望◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆
（13:40～15:40）
８．光照射除電技術の開発の経緯と性能特性 高砂熱学工業㈱ 稲葉 仁
９．高周波イオナイザの除電性能 シシド静電気㈱ 榎本 洋介
10．コロナ除電のコンピュータシミュレーション －交流コロナ除電の性能向上とイオンのチューブ輸送
産業安全研究所 大澤 敦
11．コロナ放電式イオナイザの低コンタミネーション化 職業能力開発大学 今園 浩之
◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆ESD/EMIの測定技術◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆◇◆
（15:50～16:50）
12．MOSFETを使ったイオンバランスセンサの開発 広島国際大学 寺重 隆視
13．帯電した人体からの放電電流波形の時間－周波数解析（Ⅱ） 東京理科大学 吉田 孝博
14．閉会挨拶（16:50～16:55） 東京理科大学 増井 典明
●●●参加申込方法：事前申込み又は当日受付（定員100名 先着順）●●●
●事前申込みされる方は，ファックス又は郵送（下記書式）あるいはE-mailで下記へお申込下さい。
参加費：静電気学会会員・賛助会員:5,000円，非会員：8,000円（ただし、RCJ会員・IDEMA会員：6,000円）
●当日受付にてお支払い下さい。
申込・問合先：
〒113-0033東京都文京区本郷4-1-3 シャルム’80 静電気学会事務局
電話:
03-3815-4171 fax:
03-5841-6786 e-mail:
iesj@streamer.t.u-tokyo.ac.jp
－２００５年度静電気障害防止技術シンポジウム実行委員－
藤江明雄（（株）カイジョー）
大津孝佳（（株）日立グローバルストレージテクノロジーズ）
増井典明・岡野一雄（静電気学会）
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２００５年度静電気障害防止技術シンポジウム参加申込
FAX宛先 03-5841-6786 あるいは 郵送でお願いします。
E-mailの場合も書式自由ですが下記の情報をお知らせください。
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参加者御氏名 |
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会員種別 |
正会員 賛助会員 RCJ会員 IDEMA会員 非会員 （該当するものを○で囲んでください） | |||
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所属会社名 |
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所属部署名 |
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連絡先住所 |
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電話番号 FAX番号 e-mailアドレス | ||||